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安捷倫 ICAP 700 等離子體發(fā)射光譜

  • 儀器品牌安捷倫
  • 經(jīng)營(yíng)單位京科瑞達(dá)
  • 我們的產(chǎn)品已覆蓋色譜,光譜,質(zhì)譜三大類共100多個(gè)品規(guī),品種全,規(guī)格多,能滿足客戶對(duì)分析儀器的需求。主要產(chǎn)品有:氣相/液相色譜儀(GC/HPLC)、氣質(zhì)/液質(zhì)聯(lián)用儀(GCMS/LCMS)、紫外/紅外光譜儀(UV/FTIR)、原子吸收光譜儀(AAS)、等離子體光電直讀光譜儀(ICP/ICP-MS)等。二手分析儀器在醫(yī)藥、化工,環(huán)保、食品、科研等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,有效地解決了客戶對(duì)分析儀器“想用買不起”的困擾,受到了廣大客戶的認(rèn)可。
全國(guó)熱線400 0000 439

詳情介紹

安捷倫ICP-OES 700系列是高性能全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,以?同時(shí)讀數(shù)、無譜線缺失、高穩(wěn)定性?為核心優(yōu)勢(shì),廣泛應(yīng)用于復(fù)雜樣品的多元素分析。以下是其核心技術(shù)與應(yīng)用詳解:

一、核心特點(diǎn)與技術(shù)優(yōu)勢(shì)

1、?全譜直讀與光學(xué)系統(tǒng)?

?同步檢測(cè)?:采用中階梯光柵(刻線97.4線/mm)與棱鏡交叉色散系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)175-785nm波長(zhǎng)連續(xù)覆蓋,無移動(dòng)部件確保長(zhǎng)期穩(wěn)定性?。

?檢測(cè)器?:超過百萬像素的CCD檢測(cè)器,兼具高靈敏度和防電子溢流設(shè)計(jì),像素分辨率≤0.004nm(200nm處),雜散光≤2ppm ?。?垂直炬管設(shè)計(jì)?:減少基質(zhì)沉積,延長(zhǎng)炬管壽命,尤其適合高鹽、有機(jī)溶劑樣品?

2、智能化分析技術(shù)

?FACT自動(dòng)曲線擬合?:自動(dòng)校正光譜干擾,提升復(fù)雜基質(zhì)分析的準(zhǔn)確性?。

?冷錐接口技術(shù)?:消除低溫尾焰,降低背景噪聲,優(yōu)化檢出限?。

?電子簽名與法規(guī)合規(guī)?:符合21 CFR Part 11法規(guī),確保數(shù)據(jù)完整性與安全性?。

 

 二、炬管系統(tǒng)與進(jìn)樣技術(shù)

 

 

可選類型?:提供一體式(易安裝)、半可拆卸式(更換外管)和全可拆卸式(獨(dú)立更換中心管/外管),適應(yīng)不同樣品需求?。

耐腐蝕設(shè)計(jì)?:如HF專用炬管(陶瓷中心管)可耐受氫氟酸消解液?。

高固體含量炬管?:中心管內(nèi)徑2.4mm,錐形設(shè)計(jì),支持TDS(總?cè)芙夤腆w)高達(dá)25%的樣品?

進(jìn)樣系統(tǒng)優(yōu)化

?雙通道霧化室?:提升有機(jī)樣品和高TDS樣品的等離子體穩(wěn)定性。

?氣體純化?:活性炭/13X過濾器確保載氣純度,避免靈敏度下降。

炬管類型

中心管內(nèi)徑

適用樣品

優(yōu)勢(shì)

標(biāo)準(zhǔn)一體式

1.8mm

TDS242[[71223[7][20012007<10%的水溶液

安裝簡(jiǎn)便,成本低

HF專用半可拆卸式

1.8mm

HF消解液

耐氫氟酸腐蝕

高固體全可拆卸式

.mm

高鹽、懸浮顆粒樣品

抗堵塞,維護(hù)便捷

 

三、應(yīng)用場(chǎng)景與行業(yè)解決方案

鋰電材料分析?

同步監(jiān)測(cè)正負(fù)極材料中的Li、Co、Ni等種主量元素及種雜質(zhì)元素,單批次檢測(cè)周期≤.分鐘]。
.?環(huán)境與食品安全?

地下水重金屬檢測(cè)(As、Hg)檢出限達(dá).μg/L,符合EPA .標(biāo)準(zhǔn);食品中Pb、Cd分析需控制酸度[18][315[16][<5%以提升穩(wěn)定性]。
?冶金與材料科學(xué)?

采用基體匹配法分析鋁合金中的Mg、Cu等元素,偏差從8.2%降至.%。

 

四、操作與維護(hù)要點(diǎn)

00001. ?環(huán)境控制?

溫度波動(dòng)≤3℃,避免光學(xué)校準(zhǔn)漂移;濕度需嚴(yán)格控制以防光學(xué)元件受損?。

00002. ?關(guān)鍵參數(shù)校準(zhǔn)?

氬氣壓力穩(wěn)定在0.65±0.05MPa(波動(dòng)>0.1MPa可導(dǎo)致功率偏差12%)?。

00003. ?故障排查?

Na 589.59nm譜線異常時(shí),83%故障可通過超聲清洗冷錐接口解決?。

 


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